9.00 : 18.00 пн - пт.

информация по телефону:

+7 495 646-88-24 Обратный звонок

2D DIC - системы для определения деформаций.

2D DIC - системы для определения деформаций.

2D DIC - системы для определения деформаций.

2D DIC - системы для определения деформаций.

2D DIC системы.

Ситемы 2D DIC от LaVision измеряют деформации и напряжения оптическим неинвазивным методом корреляции цифровых изображений (DIC). 
DIC комплексы — это бесконтакный оптический инструмент для анализа формы, деформаций и напряжений при испытании материалов.
 

2D DIC системы, типовой порядок работы:

  • Калибровка системы
  • Съемка процесса нагружения. Возможна синхронизация с АЦП сбора данных с тензодатчиков
  • Расчет деформаций — векторов перемещения поверхности с помощью алгоритма кросс-корреляции
  • Постобработка и фильтрация полученного поля векторов
  • Визуализация (наложение на изображение) векторов, сетки деформаций и производных напряжений
  • Пользователь имеет возможность задать виртуальный тензодатчик в любом месте на изображении объекта и получить графики нагружения
 

2D DIC системы, получаемая информация:

  • 2D деформация и поля напряжений
  • определение относительного перемещения точек
  • величины деформаций и напряжений
  • области локализации деформации
  • обнаружение дефектов, вызывающих локальное ослабление конструкции
  • длина трещин, статистика развития трещин (опция)
  • интенсивность напряжений, энергия упругой деформации
 

2D DIC системы, применения:

  • Измерение напряжений
  • Анализ быстропротекающих процессов деформации
  • Циклические испытания на усталость
  • Испытания на термомеханическую усталость
Модель Вид данных Применение Частота измерений Метод Измеряемая величина Отправить запрос
Standard StrainMaster 2D DIC 2D Испытания материалов 0-200 Гц DIC Деформация, напряжения
High-Speed (Time-resolved) StrainMaster 2D DIC 2D Испытания материалов 0-20 кГц и более DIC Деформация, напряжения

2D DIC системы, комплектность:

  • CCD Charge Coupled Device (Прибор с зарядовой связью) видеокамера
  • оптика
  • устройства подсветки
  • блок синхронизации
  • оснастка для монтажа и калибровки
  • программное обеспечение DaVis SatrainMaster
 
2D DIC системы также позволяет обрабатывать информацию со сканирующих электронных микроскопов (SEM) и других средств получения изображений.

Вопрос:Измерение деформаций и напряжений методом корреляции цифровых изображений (DIC)?

Ответ:
Метод корреляции цифровых изображений (Digital Image Correlation - DIC) позволяет отслеживать перемещение поверхности образца во время испытаний на растяжение, сжатие, изгиб.
Подробнее

Метод корреляции цифровых изображений (Digital Image Correlation - DIC) позволяет отслеживать перемещение поверхности образца во время испытаний на растяжение, сжатие, изгиб.

Измеряются поля деформаций и напряжений и форма поверхности (для трехмерных систем DIC).

Изображение образца разбивается на сектора и анализируется перемещение рисунка поверхности (естественного или нанесенного с помощью красителя) в пределах каждого такого элементарного окна. Максимум корреляции соответствует перемещению поверхности и дает длину и направление вектора для каждого элементарного окна.

 

Для анализа необходимы минимум два изображения испытуемого образца, одно из которых, как правило, снято при нулевой нагрузке. Для получения изображений используют CCD-видеокамеру. При использовании стерео системы из двух CCD видеокамер возможно измерение деформаций в трехмерном пространстве.

Производные деформаций дают тензоры напряжений по всей поверхности образца. Дополнительно, в таких DIC системах, как LaVision StrainMaster предусмотрена возможность размещения в любом месте на изображении объекта виртуального тензодатчика.

Системы DIC позволяют анализировать как статические нагружения, так и быстропротекающие процессы при испытании материалов с помощью скоростных видеокамер.


Свернуть

2D DIC системы - измерение деформаций и напряжений методом корреляции цифровых изображений.

 
Метод корреляции цифровых изображений (Digital Image Correlation - DIC) позволяет отслеживать перемещение поверхности образца во время испытаний на растяжение, сжатие, изгиб.
Измеряются поля деформаций и напряжений и форма поверхности (для трехмерных систем DIC).
Изображение образца разбивается на сектора и анализируется перемещение рисунка поверхности (естественного или нанесенного с помощью красителя) в пределах каждого такого элементарного окна. Максимум корреляции соответствует перемещению поверхности и дает длину и направление вектора для каждого элементарного окна.
Для анализа необходимы минимум два изображения испытуемого образца, одно из которых, как правило, снято при нулевой нагрузке. Для получения изображений используют CCD-видеокамеру. При использовании стерео системы из двух CCD видеокамер возможно измерение деформаций в трехмерном пространстве.
Производные деформаций дают тензоры напряжений по всей поверхности образца. Дополнительно, в таких DIC системах, как LaVision StrainMaster предусмотрена возможность размещения в любом месте на изображении объекта виртуального тензодатчика.
Основные компоненты

Высокоскоростной контроллер для Time-resolved систем.

  • поддержка видеокамер
  • поддержка усилители изображения
  • поддержка лазеров и АЦП
  • поддержка модули мониторинга энергии
Phantom v2012 Phantom

Высокоскоростная видеокамера Phantom v2012 с опицей FAST. [Поставляется в составе систем LaVision].

  • КМОП матрица
  • 1280 х 800 пикселей
  • 22500 кадр/с при полном разрешении
  • PIV режим 
Рекомендуем посмотреть

Осветительный прибор для систем, основанных на DIC методе.

  • для высокоскоростной съемки
  • уникальная оптическая система
  • низкое потребление энергии
  • ресурс 50 000 ч
  • отсутствие мерцания
  • аналог 800 Вт галогенной лампы
  • световой поток 7 700 лм
  • постоянный и импульсный режим

Оптическое измерение деформаций и напряжений при испытаниях материалов.

  • трехмерная форма поверхности
  • относительные перемещения
  • области локализации деформаций
  • образование и развитие трещин

Портативная система анализа формы, деформаций и напряжений при испытаниях материалов.

  • точное измерение перемещения
  • высокочувствительные CCD видеокамеры
  • простая калибровка системы

Оптическое измерение деформаций и напряжений при испытаниях материалов.

  • Рентгеновская Компьютерная Томография
  • Магнитно-Резонансная Томография (МРТ)
  • Оптическая Когерентная Томография (ОКТ)
  • Конфокальная Микроскопия

Адрес: 127473, Москва, пер. Чернышевского, д.5, стр.1 Посмотреть на карте »

Тел./ факс: (495) 646-88-24
E-mail: info@cameraiq.ru

© 2013-2017 ООО «Камера Ай-Кью»

Обратный звонок
Имя*:
Отчество:
Фамилия*:
Организация:
Телефон*:
Время звонка:
Мы работаем с 9.00 до 18.00 по московскому времени. Укажите удобное время для звонка:
Сейчас
Сегодня, в другое время
:
Завтра / в ближайший рабочий день
:

Введите код 

Нажимая кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку моих персональных данных в соответствии с условиями Пользовательского Соглашения
Регистрация
Имя*:
Отчество:
Фамилия*:
Должность:
Организация*:
Город:
Сфера деятельности организации*:
E-mail*:
Телефон*:
Сообщение:
* Поля, обязательные для заполнения
 
Подписаться на новости

Введите код 

Нажимая кнопку "Зарегистрироваться", я даю согласие на обработку моих персональных данных в соответствии с условиями Пользовательского Соглашения
Забыли пароль?

Отправить заявку

Ваш выбор: Добавить ещё товары

Отправить без авторизации

Имя*:
Отчество:
Фамилия*:
Должность:
Организация*:
Город:
E-mail*:
Телефон*:
Сообщение:
* Поля, обязательные для заполнения

Введите код 

Нажимая кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку моих персональных данных в соответствии с условиями Пользовательского Соглашения