+7 (495) 646-88-24
Rus
/Вопросы и ответы/Принцип работы теневого метода в системах ParticleMaster Shadow

Принцип работы теневого метода в системах ParticleMaster Shadow

Теневой метод (ParticleMaster Shadow) основан на обработке изображений с высокой разрешающей способностью, которые были получены с помощью фоновой подсветки.

 

 

Данная конфигурация позволяет получать изображения объектов с четко выраженными краями. Теневой метод особенно подходит для визуализации частиц, капель и других структур. Объем исследуемой области определяется фокальной плоскостью и глубиной резкости системы формирования изображения. Представленный Теневой метод можно применять при исследованиях частиц любой формы и светопроницаемости, при этом диапазон размеров объектов исследования начинается от нескольких микрон (зависит от используемой оптики).

 

 

В качестве источника подсветки обычно используется импульсный лазер с диффузором или фоновая LED лампа (выбор зависит от скорости частиц). Использование импульсного лазера, имеющего короткий импульс, в качестве фоновой подсветки позволяет получать четкие изображения частиц, имеющих скорость более 100 м/с. Фоновая LED подсветка предназначена для исследования частиц, движущихся со скоростью ниже на один порядок. Работа с PIV лазером в сочетании с видеокамерой, у которой присутствует режим двойного кадра, позволяет определять дополнительно скорости исследуемых частиц.

 

 

Системы, основанные на теневом методе ParticleMaster Shadow от компании LaVision способны исследовать частицы с размерами, превышающими 5 мкм.

 

 

© 2013 -2020 ООО «Камера Ай-Кью»
Отправить заявку
Нажимая кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку моих персональных данных в соответствии с условиями Пользовательского Соглашения